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橙色卡X-MET8000射线光谱金属分析仪
产品时间:2018-09-04
橙色卡X-MET8000射线光谱金属分析仪
X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。
通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。

橙色卡X-MET8000射线光谱金属分析仪

日立手持式X-MET8000系列手持XRF分析仪

嘎嘎嘎

操作简单

大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。

符合人体工学

X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度最低。

坚固耐用而拥有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。

橙色卡X-MET8000射线光谱金属分析仪

日立手持式X-MET8000系列手持XRF分析仪

 

技术参数

X-MET8000 Smart

X-MET8000 Optimum

X-MET8000 Expert

X射线管:40kV

X射线管:40kV or 50kV

X射线管:50kV

滤光片:单一

滤光片:单一

滤光片:单一

检测器:大面积 SDD

检测器:大面积 SDD

检测器:大面积 SDD

最高样本温度:400ºC

最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)

最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)

符合 IP54 等级

符合 IP54 等级

符合 IP54 等级

Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

校准:基本参数法(FP)

校准:基本参数法 (包括轻元素分析)

校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)

内置摄像头 (可选)

内置摄像头(可选)

内置摄像头

 

小光班准直器(可选)

小光班准直器 (可选) 

 

针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片

针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片
 

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